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武汉冷热冲击试验(两箱/三箱),快速老化,可靠性测试

更新时间:2023-08-09 17:06:04 信息编号:249573954
武汉冷热冲击试验(两箱/三箱),快速老化,可靠性测试
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  • 电子电器

  • 冷热冲击试验,碰撞试验,跌落试验,高低温测试

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服务项目
材料检测,工业品检测,汽车零部件测试,光电子信息产品测试
面向地区
行业类型
电子电器

武汉冷热冲击试验(两箱/三箱),快速老化,可靠性测试

冲击试验以模拟设备及其组件在运输或使用过程中,可能遭遇到冲击效应为主,并透过冲击波于瞬间暂态能量交换,分析产品承受外界冲击环境的能力。试验的目的在于了解其结构弱点以及功能退化情况,有助于了解产品的结构强度以及外观抗冲击,跌落等特性。
1.冲击测试:验证系统及电子零组件产品在经历特定形态的冲击测试后,其结构与功能特性是否改变:半正弦波,梯形波(方波)。
2.危险区域测试:产品危险曲线,为包材设计提供设计参考。
3.夹治具设计:为冲击测试样品设计夹具,理想的能量输入。
4.冲击响应量测分析:利用SRS、FFT、高速摄影量测并分析产品相应特性。</a>

武汉致一检测技术有限公司 6年

  • 高低温试验,振动测试,光通讯产品,光电子产品模块等
  • 武汉市东湖新技术开发区华园北路6号光元科技园

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